近日，北京市理化分析测试中心物理室主持制定的GB/T 21649.1-2008《粒度分析 图像分析法 第1部分：静态图像分析法》、GB/T 21650.1-2008《压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度 第1部分：压汞法》、GB/T 21650.2-2008《压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度 第2部分：气体吸附法分析介孔和大孔》3项国家标准由国家标准化管理委员会批准发布，并于2008年10月1日开始实施。
    图像分析方法是一种颗粒度观察测定的绝对方法，因而具有可靠性和直观性。采用图像分析方法测定粒度分布是非常简单易行的，而且同时能够观察到颗粒的形貌，加之图像分析仪统计计算软件的发展，应当说图像分析方法是一种比较权威和可信的方法。因此，GB/T 21649.1-2008《粒度分析 图像分析法 第1部分：静态图像分析法》的实施，进一步规范了在取样、制样、粒度的界定和计数等问题，对于混和样品或多相样品等非纯物质，同样可采用图像分析方法进行选择性地观测。
    GB/T 21650.1-2008《压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度 第1部分：压汞法》、GB/T 21650.2-2008《压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度 第2部分：气体吸附法分析介孔和大孔》主要用于多孔材料的评价及检验。纳米多孔材料的应用领域十分广泛，相关的学术研究与技术开发均十分活跃。孔隙率和孔径分布是表征其孔隙结构特性的重要参数，但国内外尚未制定相应的测定标准。为此，该标准的发布，严格规范了纳米多孔材料孔隙率和孔径分布的测定方法（操作要求及数据处理），为纳米多孔材料的孔隙率和孔径分布评价提供了统一的方法，使相关的研究结果之间具有严格的可比性，将有助于提高纳米多孔材料的孔隙率和孔径分布测定的规范性和可比性，促进纳米多孔材料的研究。
    这3项国家标准规范了粒度分析、固体材料的比表面及孔分布测量，为纳米材料在制备、研发和应用中，准确地反映材料的基础指标，纳米材料的深度研究和质量控制提供了最终的技术保障，填补了国内纳米材料相关基础检测标准制定方面的空白。并将促进我国在纳微材料及相关技术的发展。